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Ingeniare. Revista chilena de ingeniería

versión On-line ISSN 0718-3305

Resumen

CASTRO GUTIERREZ, Heiner. Un nuevo esquema para polarímetros basado en semiconductor de estado sólido. Ingeniare. Rev. chil. ing. [online]. 2012, vol.20, n.3, pp.304-311. ISSN 0718-3305.  http://dx.doi.org/10.4067/S0718-33052012000300004.

Un nuevo esquema de polarímetro es sugerido usando semiconductores de estado sólido. La nueva aproximación está basada en la modulación sobre las intensidades de los rayos difractados a través de una rejilla quiral de dos dimensiones reportado recientemente. Será demostrado que al menos cuatro mediciones de intensidades de rayos difractados no equivalentes son necesarios para estimar el estado de polarización del rayo incidente. El azimut del rayo incidente es variado, rotando un lente polarizador lineal montado en un motor paso a paso. La intensidad de cuatro rayos difractados es medida por medio de una pequeña pantalla, una cámara CCD y algunos algoritmos corriendo en un computador. El software de desarrollo LabVIEW fue usado para controlar el hardware y presentar los resultados. Matlab fue utilizado para calcular las intensidades de los rayos difractados y así computar el azimut y la elipticidad del rayo incidente. Aunque en teoría los dos parámetros, el azimut y la elipticidad, pueden ser estimados, los experimentos muestran que solo la estimación del azimut es precisa. Mientras que la elipticidad no puede ser estimada con precisión. El error en la estimación del azimut depende de las variaciones de potencia del rayo incidente. La estimación del azimut fue encontrada correcta entre los grados [0,140) y (150,180]. Los grandes errores en el azimut encontrados entre 140 y 150 grados ocurren por razones desconocidas.

Palabras clave : Polarización; azimut; elipticidad; intensidad de la luz; rejillas quirales.

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